Compiti ed esercitazioni VERIFICATO

Testi d’esame

Università degli Studi di Roma - La Sapienza chimica industriale 2018
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Riassunto AI · si legge in un minuto

Il documento presenta tre esercizi di Fisica II per il corso di Chimica Industriale svolti dal Prof. Leaci. Il primo problema calcola carica distribuita, campo elettrico e lavoro in un sistema con dielettrico sferico. Il secondo esercizio determina campo magnetico, momento meccanico ed energia potenziale per un dipolo tra tre fili percorsi da corrente. L'ultimo esempio analizza l'interferenza della luce monocromatica attraverso fenditure in presenza di una pellicola dielettrica, calcolando differenze di fase e posizioni dei massimi d'interferenza.
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  • L'esercizio sulla distribuzione di carica sferica richiede l'applicazione del teorema di Gauss e della legge di Coulomb per calcolare la carica distribuita nel dielettrico, il campo elettrostatico in un punto interno alla regione isolante e il lavoro necessario per spostare una carica esterna verso la superficie interna.
  • Nello studio dei campi magnetici generati da tre fili infiniti disposti ai vertici di un triangolo equilatero, si utilizza il principio di sovrapposizione vettoriale per determinare il campo totale nel punto mediano e il momento meccanico esercitato su una spira dipolare posta in tale posizione.
  • L'analisi dell'interferenza della luce attraverso due fenditure in presenza di un mezzo dielettrico sottostante implica il calcolo della differenza di fase dovuta alla variazione dell'indice di rifrazione e la determinazione dell'intensità risultante nel punto di osservazione sull'asse normale.
  • Per identificare l'ordine del massimo d'interferenza in una regione specifica, si impone la condizione che la differenza di cammino ottico sia un multiplo intero della lunghezza d'onda nel mezzo, tenendo conto del vincolo geometrico sulla distanza dal centro delle fenditure.
  • I calcoli finali per localizzare la posizione spaziale del massimo d'interferenza considerato richiedono l'applicazione della relazione tra differenza di cammino, indice di rifrazione e geometria del sistema ottico modificato dalla pellicola dielettrica.

Riassunto generato con l'intelligenza artificiale a partire dagli appunti. Come lo facciamo

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